環(huán)境應(yīng)力篩選測試 精密儀器檢測服務(wù)內(nèi)容

電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選測試流程：

一、 樣品信息調(diào)查，了解產(chǎn)品尺寸、重量和結(jié)構(gòu)信息，確定產(chǎn)品溫度保持時(shí)間（溫度穩(wěn)定時(shí)間），該時(shí)間優(yōu)先采用溫度測定確定。

二、 確定試驗(yàn)程序，缺陷剔除與故障檢驗(yàn)循環(huán)次數(shù)和時(shí)間，必要時(shí)可適當(dāng)剪裁。

環(huán)境應(yīng)力篩選常見測試內(nèi)容：

1.缺陷剔除階段

缺陷剔除階段包括5min的隨機(jī)振動篩選和40h（一次循環(huán)一般為4h或3h20min）的溫度循環(huán)篩選，順序?yàn)橄入S機(jī)振動后溫度循環(huán)，盡可能的激發(fā)產(chǎn)品缺陷，便于剔除產(chǎn)品早起缺陷。

2.故障檢驗(yàn)階段

檢驗(yàn)包括40h~80h的溫度循環(huán)和5min~15min的隨機(jī)振動篩選，順序?yàn)橄冗M(jìn)行溫度循環(huán)再進(jìn)行隨機(jī)振動，目的在于驗(yàn)證篩選的有效性。

篩選應(yīng)力剪裁：在實(shí)際試驗(yàn)中可根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際情況剪裁，通常要求溫度循環(huán)次數(shù)不低于10個(gè)。

服務(wù)范圍

本商品可提供針對電子產(chǎn)品（印制電路板組件、電子組件、整機(jī)或系統(tǒng)）的環(huán)境應(yīng)力篩選測試

環(huán)境應(yīng)力篩選測試 精密儀器檢測檢測標(biāo)準(zhǔn)

GJB1032-90電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法

GJB1032A-2020電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法

電子裝備環(huán)境應(yīng)力篩選實(shí)施方法

檢測項(xiàng)目

環(huán)境應(yīng)力篩選——隨機(jī)振動、溫度循環(huán)

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測試周期

5-7個(gè)工作日

服務(wù)背景

環(huán)境應(yīng)力篩選主要適用于批生產(chǎn)階段和工程研制階段，通過篩選可以剔除產(chǎn)品的早期故障，便于提高產(chǎn)品可靠性、加快工程研制進(jìn)度，減少維修工作量和維修費(fèi)用。